Palestrante: Andre S Ferlauto (CCNH-UFABC)
Título: Propriedades Ópticas de Filmes Finos de Óxidos Metálicos
Resumo: Apresentarei resultados acerca das propriedades ópticas de filmes finos de óxidos metálicos, determinadas pela técnica de elipsometria espectroscópica. Essa técnica permite a obtenção da função dielétrica complexa (ou índice de refração complexo) dos materiais. Irei tratar principalmente de filmes de hematita, Fe2O3, e de filmes de óxido de tântalo TaOx.
Para os filmes de hematita, que foram produzidos por método sol-gel/spin-coating, será mostrado como o estudo das propriedades ópticas permite entender melhor o processo de produção dos filmes. A análise das funções dielétricas mostra também o papel da dopagem não intencional do estanho, que se difunde a partir do substrato de SnO2:F. Tais resultados serão discutidos em relação a aplicação dos filmes de hematita como foto-anodos para a hidrólise foto-assistida da água.
Filmes de óxido de tântalo TaOx com diferentes estequiometrias foram produzidos pela técnica de sputtering reativo. Tais filmes têm sido intensamente estudados para aplicação em dispositivos de memórias resistiva A propriedades ópticas desses filmes demostram que os filmes sub-estequiométricos podem ser considerados como uma mistura formada por pequenos aglomerados metálicos (átomos de tântalo no estado de oxidação Ta0) embebidos em uma matriz dielétrica (Ta2O5). A análise dos resultados da elipsometria permite uma quantificação da concentração dessa fase metálica que pode ser relacionada com a estequiometria dos mesmos. As implicações dessa microestrutura para os fenômenos de transporte desse material serão discutidas.
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